XANTAR® LDS 3734

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Especificaciones Técnicas

Ficha técnica (TDS) según estándares internacionales

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Información General Valor
Aditivo (Additive)
Características (Features)
Formas (Forms)
Físico Sistema Métrico Sistema Imperial Método de prueba
Densidad
1.29 g/cm³
-
ISO 1183
Índice de fluidez de masa (MFR)
(260°C/5.0 kg)
11 g/10 min
-
ISO 1133
Contracción de moldeo
Flujo
-
ISO 294-4
Absorción de agua
(Equilibrio, 23°C, 50% HR)
-
ISO 62
Mecánico Sistema Métrico Sistema Imperial Método de prueba
Módulo a la tracción
2200 MPa
319083.6 psi
ISO 527-2
Esfuerzo a la tracción
(Rendimiento)
50.0 MPa
7251.9 psi
ISO 527-2
Deformación a la tracción
(Rendimiento)
-
ISO 527-2
Deformación nominal a la tracción en rotura
- %
-
ISO 527-2
Módulo de flexión
2000 MPa
290076.0 psi
ISO 178
Esfuerzo a la flexión
78.0 MPa
11312.96 psi
ISO 178
Resistencia al impacto Charpy con entalla
25 kJ/m²
45 kJ/m²
-
11.89 ft·lb/in²
21.41 ft·lb/in²
ISO 179/1eA
-
-
Resistencia al impacto Charpy sin entalla
- - -
ISO 179/1eU
-
-
Resistencia al impacto Izod con entalla
35 kJ/m²
50 kJ/m²
-
16.65 ft·lb/in²
23.79 ft·lb/in²
ISO 180/4A
-
-
Energía de impacto multiaxial instrumentado
- - - -
-
Internal Method
ISO 6603-2
Internal Method
Térmico Sistema Métrico Sistema Imperial Método de prueba
Temperatura de deflexión térmica
(1.8 MPa, No recocido)
120 °C
248.0 °F
ISO 75-2/A
Temperatura de reblandecimiento Vicat
142 °C
287.6 °F
ISO 306/B50
CLTE
6.0E-5 cm/cm/°C
6.0E-5 cm/cm/°C
- - -
ISO 11359-2
-
-
Eléctrico e Inflamabilidad Sistema Métrico Sistema Imperial Método de prueba
Resistividad superficial
- ohms
-
IEC 60093
Resistividad volumétrica
- ohms·cm
-
IEC 60093
Permitividad relativa
(1.00 GHz)
-
IEC 60250
Factor de disipación
(1.00 GHz)
-
IEC 60250
Clasificación de inflamabilidad
(0.400 mm)
-
IEC 60695-11-10, -20
Descripción y Propiedades:

Estructuración Directa por Láser (LDS)*, Retardante de llama (libre de halógenos), Modificado por impacto *El compuesto está destinado específicamente para su uso en el proceso de fabricación de diseños de caminos conductores de acuerdo con la solicitud alemana de la patente 101 32 092 de LPKF Laser & Electronics AG. Por favor, dirígete directamente a LPKF Laser & Electronics AG (www.LPKF.de).

info Los valores enumerados anteriormente son valores típicos medidos en especímenes estándar y no deben utilizarse como especificaciones garantizadas.